RCS紧缩场测试系统

RCS紧缩场测试系统

RCS紧缩场测试系统的主要功能是在微波暗室内,通过紧缩场形成平面波照射被测目标,采用二维低散射金属支架系统或地面泡沫透波转台支架支撑被测目标,通过带硬件选通门的信号收发系统完成对目标的RCS点频、扫频、一维、二维高分辨成像测试。

主要技术指标:

RCS紧缩场测试系统主要技术指标

测试频率:

0.5~40GHz、75~110GHz

极化方式:

水平极化、垂直极化

屏蔽暗室尺寸(屏蔽净空间):

28m×12m×12m(长×宽×高)

静区指标—静区形状为圆柱形

0.5~1GHz:≥1.5m×1.5m(直径×长度)
 1~40GHz、75~110GHz:≥3m×3m(直径×长度)

静区指标—幅度锥削

≤1dB ,0.5~40GHz、75-110GHz

静区指标—幅度波纹

≤±0.5dB ,0.5~40GHz、75~110GHz

静区指标—相位波纹

0.5~18GHz:≤9°(峰峰值)
 18~40GHz、75~110GHz:≤16°(峰峰值)

静区指标—交叉极化

0.5~40GHz、75~110GHz:≤ -30dB

等效背景电平:

0.5 ~2GHz:≤-60dBsm;2 ~18GHz:≤-70dBsm
 18 ~40GHz:≤-60dBsm;75~110GHz:≤-40dBsm

系统动态范围:

≥60dB

RCS测试精度:

±1dB